中国电子技术标准化研究院赛西实验室电子元器件检测中心（以下简称“中心”）始建于1997年，面向全行业开展各类电子元器件标准验证、测试试验、鉴定检验、应用验证、破坏性物理分析及失效分析，提供电子元器件的国产化评价和技术仲裁服务，围绕电子元器件标准技术、试验技术和可靠性技术，承担来自国家部委和行业的科研任务。

中心受工业和信息化部委托，建有“面向半导体、芯片领域的产业技术基础公共服务平台”、“面向5G的光电子芯片与器件技术公共服务平台”、“面向5G与智能网联汽车的基础元器件质量可靠性技术提升及应用公共服务平台”、“面向高端芯片产业链的可靠性分析评价平台”等4个公共服务平台，以国内一流的硬件设备和技术水平，面向电子元器件行业提供一流的服务。中心在半导体分立器件、光电子器件、微波器件测试方面和大规模集成电路分析方面具有行业领先水平，其中，元器件静电测试、密封性能评价、内部气体成分分析、空间环境模拟试验等优势明显。

中心研究编制了GJB 128《半导体分立器件试验方法》、GJB 360《电子及电气元件试验方法》、GJB 548 《微电子器件试验方法和程序》和GJB 4027《军用电子元器件破坏性物理分析方法》等标准，这些标准作为电子元器件检测领域的权威依据，在电子元器件质量保证中起到了重要作用。

中心按照ISO/IEC17025《检测实验室和校准实验室能力的通用要求》建立质量管理体系，各项工作均在体系文件控制之下有效运行，并通过了CNAS认可。所有人员均经过培训和考核，持证上岗，人员素质和人员能力得到有效保证。