近日,国际电工委员会IEC TC47 SC47E半导体分立器件分技术委员会和SC47F MEMS分技术委员会工作组会议在成都召开。此次会议由我院和中国电子科技集团公司第十三研究所主办,成都安可信电子股份有限公司承办,成都市高新区质监局和成都电子科技大学协办。来自中国、日本、韩国、德国等国家的36位代表参加了本次会议。
会议期间,各工作组的召集人确认了上次工作组会议的会议纪要,介绍了各工作组的工作进展情况,对SC47E、SC47F目前正在制修订的半导体传感器、微波半导体器件、MEMS器件标准展开了讨论,主要包括IEC 62047和IEC 60747系列标准。