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我院组织召开RFID高速移动性能测试方法研讨会

时间:2018-09-26
来源:物联网研究中心

2018年9月21日,由我院(以下简称电子标准院)和射频识别开放实验室共同组织的RFID高速移动性能测试方法讨论会在北京亦庄赛西实验室召开。

赵波院长对平台的建设、汽车电子标识的使用以及RFID技术的推广提出了重要建议,希望射频识别开放实验室和各个成员单位在加强技术和测试方法研究的同时,抓住物联网和信息技术高速发展的时机,利用RFID的技术优势,积极推动在交通等行业中的应用,尽快完善测试平台的建设,为更多的行业领域做好技术支撑和服务。

会上,公安部交通管理科学研究所的朱剑欣工程师介绍了目前汽车电子标识的应用和测试情况;电子标准院物联网研究中心蔡廷晓工程师介绍了RFID高速移动性能测试方法的研究目的、研究内容和实施方法,分析了汽车电子标识系统在动态读写性能测试遇到的主要问题和研究需求;北京邮电大学的洪卫军教授发表了题为《UHF RFID车辆管理应用半实物仿真测试系统建设》的主题报告,详细讲解了RFID移动信道的建模和仿真原理,介绍了仿真测试系统的结构和优势。各位与会专家对仿真模型和测试系统的研究表现了极高的热情,并提出了许多建设性意见。

经讨论研究,射频识别开放实验室将进一步组织对理论测试数据和实际场地测试数据进行比对,调整和修正理论信道模型。同时采集实际测试环境相关参数,对RFID高速移动性能测试平台进行完善,并将开展相关的测试活动。

来自我院物联网研究中心、公安部交通管理科学研究院、北京邮电大学、睿芯联科(北京)电子科技有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、华大半导体、爱康普科技(大连)有限公司、天津中兴智联科技有限公司、航天二院七〇六所、浙江海康科技有限公司、昆明联诚科技股份有限公司、北京中科蓝信科技有限公司、北京千方科技股份有限公司的21位专家代表参加了会议。

 

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