全站检索
 

我院组织召开人工智能芯片测试技术研讨会

时间:2019-06-03
来源:集成电路测试验证实验室

为推动我国人工智能芯片产业发展,促进人工智能芯片测试技术水平提高,我院集成电路测试验证实验室于2019年5月15日在北京应物会议中心召开“人工智能芯片测试技术研讨会”。来自我院、中国科学院计算技术研究所、华为海思、寒武纪、依图科技、熠知电子等专家代表出席会议。

会上,与会代表针对制定AI芯片相关标准框架、推进AI芯片测评工具研究、开展芯片测评指标活动等三个主要内容进行了深入讨论,对人工智能芯片测试关键指标和测试方法进行了梳理,并对下一步工作进行了安排与规划。

 

中国电子技术标准化研究院 版权所有 ©2009-2017 京ICP备05013730号