2020年8月25日，中国电子工业标准化技术协会组织人工智能芯片领域专家在北京万寿宾馆对《人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法》等三项团体标准项目进行审查。本次标准审查组由工业和信息化部科技司原巡视员韩俊、中国科学院大学沈海华教授、北京大学孙广宇教授、中国科学院计算技术研究所王磊研究员、中电58所章慧彬研究员、西安交通大学人工智能学院任鹏举副所长以及北京君正集成电路股份有限公司邱东升总监组成，韩俊任本次标准审查会组长。

出席会议的标准编制组由中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、清华大学、华为、海思半导体、依图科技、熠知电子、寒武纪、百度、智芯微电子、第四范式和北京芯可鉴等单位的专家代表组成。

中国电子技术标准化研究院集成电路测试验证实验室宋博伟代表标准编制组就主要内容、编制工作过程、主要起草单位、征求意见情况及后续工作规划等内容向专家组进行了详细汇报。与会专家从标准技术细节准确性、标准制定内容完备性及标准用语规范性等方面进行了审查和质询，标准审查专家组认为《人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法》等三项团体标准明确了业内关注的深度学习芯片主要测试指标和业内认可的对应测试方法，对深度学习芯片产品的比较和评估具有重要指导作用。专家组一致同意该三项标准通过审查，要求标准编制组尽快形成标准报批文件，按规定程序报批发布，并充分发挥团体标准优势，加速推广应用，快速满足各行业急需。