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我院组织中国代表参加IEC/TC47/SC47F全体会议

时间:2023-12-12
来源:基础产品研究中心

2023年11月14日-11月16日,IEC/TC47/SC47F微电子机械系统(MEMS)分技术委员会全体会议在德国召开,来自中国、日本、韩国、美国、德国等国家的专家参加会议。我院作为国内技术对口单位,组织来自中国电子技术标准化研究院(以下简称“电子标准院”)、北京大学、中国科学院空天信息创新研究院的4名专家代表参加了会议。

本次会议期间,我国专家积极推进我国提案进度,并提出和宣传新提案意向,取得丰硕成果:一方面推进了《硅基MEMS制造技术 纳尺度结构冲击强度检测方法》等4项我国牵头的在研提案进度,另一方面对《MEMS热电堆器件测试方法》等5项新提案意向进行了宣传。

目前SC47F是IEC在半导体领域最为活跃的分委会,MEMS也是中国在半导体领域国际标准化工作中成绩最为突出的优势领域。后续,电子标准院将加强国际标准化专家团队建设,深度参与国际标准化工作,持续为半导体领域国际标准化事业贡献中国智慧和中国力量,不断提升我国在国际标准领域的影响力和话语权。

 

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