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电子标准院新增红外焦平面阵列探测器性能评估能力
时间:2020-12-11
来源:计量与检测中心

红外焦平面阵列探测器是红外成像系统的核心部件,其性能指标的准确、可靠性将直接影响红外成像系统的性能,一个不清晰的红外成像系统将影响目标探测能力、识别概率、告警的准确性和作用距离的精准度等。

为满足我国红外焦平面阵列探测器、红外热像仪的性能和质量评价,支持红外焦平面阵列探测器及相关产品的研制与应用,电子标准院近期在国内率先建成红外焦平面阵列探测器性能评估平台。

该平台包括红外焦平面电学测试系统、红外探测器光谱响应范围测试系统、傅里叶光谱仪、三支高性能红外焦平面探测器及红外透射温湿度试验箱。平台可依据《GB/T17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法》开展红外焦平面阵列探测器的全性能参数评价测试和可靠性试验。

测试平台可涵盖制冷型红外焦平面阵列探测器、非制冷型红外焦平面阵列探测器、数字红外焦平面阵列探测器、面阵红外焦平面阵列探测器、线阵红外焦平面阵列探测器等产品的性能测试和质量评价。