国际电工委员会电工电子产品与系统的环境标准化委员会（IEC/TC111）有害物质检测方法工作组（WG3）第四次工作会议于2006年11月8日～10日在北京召开。IEC/TC111主席Koichi Mori先生、IEC/TC111秘书Andrea Legnani先生、IEC/TC111 WG3召集人Markus Stutz先生、IEC/TC111 PT3“样品拆分”召集人Maarten.ten.houten先生及来自14个国家的30余名专家参加了会议，中方选派8名同志参加了会议。

此次会议的主要议题是对国际标准IEC62321“电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序 ” CDV稿的各章内容及2006年10月份对IEC62321CDV稿的投票结果和意见进行讨论，并确定下一步的工作安排。

会议期间，中方专家充分地表达了中方的观点，并针对原子荧光光谱法（AFS）检测电子产品中有害物质进行了充分的表述，力争使这一具有我国自主知识产权的检测方法加入国际标准中；对于IEC62321附录A“电子产品测试实用指南”，我国专家详细论述了由信息产业部公布的电子行业标准《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》中对于样品拆分的理念和技术细节，受到了与会各国专家的强烈反响及关注，并得到认可。