2010年4月14-16日，IEC/TC111 WG3工作组在日本京都召开了第10次工作组会议。来自中国、德国、美国、日本、韩国、英国、荷兰及以色列等8个国家的28位代表参加了会议。中国电子技术标准化研究所程涛、广东出入境检验检疫局技术中心郑建国、宁波出入境检验检疫局技术中心陈建国、纳优北京有限公司杨李锋和北京吉天仪器有限公司刘霁欣等5位专家代表中国出席会议。

会议首先提出了此次会议的两个预期目标：第一，讨论7个新方法提案，并在2010年6月前完成IEC62321第2版的CD稿；第二，讨论IIS4，明确IIS4的分工和前期准备工作。

针对7个新方法提案的表决结果和修改意见，参会代表进行了热烈而充分地讨论，从中对一些技术细节进行了完善和改进，例如：在筛选章节中增加PCB的筛选操作示例；在六价铬章节中删除斑点法，增加金属镀层六价铬测定的方法评价等。通过此次会议，进一步扫清了IEC62321第2版中各方法的技术障碍，确保CD稿能够在今年6月之前提交IEC。

其次，会议广泛征集了各参会代表对于即将进行的IIS4的意见和建议，对IIS4的时间进度、实验室和样品选择等问题进行了认真而周密地安排和分工，各国家地区明确了工作方向，纷纷表示积极配合并参与此次IIS研究。其中，六价铬TG还决定，在正式的IIS4之前，将会在今年7月份之前，完成一项小范围的实验比对，该比对将由中国CESI实验室、韩国SAMSUNG实验室和SGS China实验室共同完成。